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【勉強会】「AI外観検査における撮像光学系選定の重要性」を開催します

IT・DX
募集終了
募集期間
開催日
開催時間 18:30 - 20:30
開催場所 福井県産業情報センター 5F システム設計室
ジャンル 勉強会

<概 要>
ふくいDXオープンラボでは、県内在住者または勤務者を対象に、DX推進に関する各種テーマの勉強会を定期的に開催しています。今回のテーマは繊維や眼鏡をはじめとする、特に製造業でニーズが高まっている、外観検査のAIを活用した自動化技術です。外観検査における基本的なライティング技術について撮像事例を交えて紹介し、外観検査用ディープラーニングの現状をお伝えするとともに、各々の検査サンプルに応じた学習モデルの作成方法を、伴走型で支援します。

 

<日 時>
10月20日(水) 18:30 – 20:30

 

<講 師>

久保 健豊 氏(シーシーエス株式会社)

 

<対 象>
県内在住者または勤務者

 

<持ち物>
検査サンプル(手のひらサイズまで)があればご持参ください。持参される場合はお申込み時にご連絡ください。
折り返し、検査サンプルについてのヒアリングシートをお送りいたします。

 

<場 所>
福井県産業情報センター 5F システム設計室
(福井県坂井市丸岡町熊堂第3号7番地1-16)

 

<費 用>
無料

 

<お申込み>
お申込みページより